Scan（掃描測試）和BIST（內(nèi)建自測試）都是用于芯片測試的技術(shù)，但它們在實(shí)現(xiàn)方式和應(yīng)用場景上有所不同。

**Scan（掃描測試）**：
掃描測試是一種常用的數(shù)字集成電路測試技術(shù)。在設(shè)計(jì)階段，工程師會(huì)在芯片中添加額外的硬件（掃描鏈），以便在測試階段將測試數(shù)據(jù)輸入到芯片內(nèi)部的特定位置，并從特定位置讀取測試結(jié)果。掃描測試主要用于生產(chǎn)階段的測試，以檢測出可能的制造缺陷。它可以提供很高的故障覆蓋率，但是需要外部的測試設(shè)備和復(fù)雜的測試向量生成。

**BIST（內(nèi)建自測試）**：
BIST是一種將測試邏輯直接集成到被測試系統(tǒng)中的方法，使系統(tǒng)能夠進(jìn)行自我測試。BIST通常包括一個(gè)測試模式生成器和一個(gè)測試響應(yīng)分析器。在測試階段，測試模式生成器會(huì)自動(dòng)產(chǎn)生測試向量，測試響應(yīng)分析器會(huì)收集并分析測試結(jié)果。BIST可以在系統(tǒng)的生命周期中的任何時(shí)間進(jìn)行測試，包括生產(chǎn)測試、系統(tǒng)啟動(dòng)時(shí)的自我測試，甚至系統(tǒng)運(yùn)行時(shí)的在線測試。BIST的優(yōu)點(diǎn)是可以進(jìn)行在系統(tǒng)級別的測試，無需外部的測試設(shè)備，但可能會(huì)增加設(shè)計(jì)的復(fù)雜性和硬件開銷。

Scan Design -- 掃描路徑設(shè)計(jì)

Scan 技術(shù)最初由Kobayashi等人提出來的，它的優(yōu)點(diǎn)是基本原理是時(shí)序電路可以模型化為一個(gè)組合電路網(wǎng)絡(luò)。

Scan design的設(shè)計(jì)目標(biāo)是能夠提高可控性和可觀測性。

通過在邏輯A和邏輯B之間插入一些額外的硬件電路，便可觀測&控制邏輯A傳遞到邏輯B的值。[1]

scan 分為兩步：

1. Scan replacement

把普通的DFF，替換成帶Scan DFF，下圖是一個(gè)mux-D的DFF，可以看到多了一個(gè)SI，SE，和一個(gè)mux。

其SE端值為0時(shí)，電路工作在正常功能狀態(tài)并能把D端的值鎖存下來；當(dāng)SE為1時(shí)，電路工作在所謂scan mode并鎖存SI的值。

常見的scan cell有三種：

2. Scan stitching

Scan stitching 是把上一步中得到的Scan DFF的Q和SI連接在一起形成scan chain。在芯片的頂層有全局的SE信號，以及scan chain的輸入輸出信號：SI 和 SO。通過scan chain的連續(xù)動(dòng)作，就可以把問題從對復(fù)雜時(shí)序電路的測試轉(zhuǎn)化成測試組合電路。

實(shí)際在設(shè)計(jì)中，這兩步都是由EDA工具完成的。

上面的兩幅圖都只有時(shí)序單元，我們再把組合邏輯放進(jìn)來。

Before scan

After scan insertion

Scan test 的步驟：

1.把Scan-En設(shè)成0，此時(shí)電路工作在正常狀態(tài)（function mode)下, scan insertion對電路的正常功能沒有影響。

2.把Scan-En設(shè)成1，然后把enable clock來驅(qū)動(dòng)寄存器，在Scan-In端輸入測試數(shù)據(jù)，然后在輸出端Scan-Out觀測，用此種方法便可以測試Flip-Flop.

3.測試組合邏輯的時(shí)候，把Scan-En設(shè)成1，然后enable clock來驅(qū)動(dòng)寄存器，在Scan-In端輸入測試數(shù)據(jù)，兩個(gè)時(shí)鐘周期后，數(shù)據(jù)便會(huì)送到組合邏輯的輸入端。

4.然后把Scan-En設(shè)成0，時(shí)鐘打一拍，經(jīng)過組合邏輯的輸出值便會(huì)送到右側(cè)的寄存器中。

5.再把Scan-En設(shè)成1，此時(shí)scan chain 工作在shift mode，此時(shí)便可以把組合邏輯的輸出值shift出來，和期望值進(jìn)行比較。

經(jīng)過這樣一個(gè)周期，圖中的組合邏輯和時(shí)序邏輯便都被測試到了。

BIST -- 內(nèi)建自測試

內(nèi)建自測試(BIST)設(shè)計(jì)技術(shù)通過在芯片的設(shè)計(jì)中加入一些額外的自測試電路，測試時(shí)只需要從外部施加必要的控制信號，通過運(yùn)行內(nèi)建的自測試硬件和軟件，檢查被測電路的缺陷或故障。和掃描設(shè)計(jì)不同的是，內(nèi)建自測試的測試向量一般是內(nèi)部生成的，而不是外部輸入的。內(nèi)建自測試可以簡化測試步驟，而且無需昂貴的測試儀器和設(shè)備(如ATE設(shè)備)，但它增加了芯片設(shè)計(jì)的復(fù)雜性。

BIST大致可分為兩類：Logic?BIST(LBIST)?和?Memory?BIST?(MBIST)

LBIST通常用于測試隨機(jī)邏輯電路，一般采用一個(gè)偽隨機(jī)測試圖形生成器來產(chǎn)生輸入測試圖形，應(yīng)用于器件內(nèi)部機(jī)制；而采用多輸入寄存器（MISR）作為獲得輸出信號產(chǎn)生器。MBIST只用于存儲(chǔ)器測試，典型的MBIST包含測試電路用于加載，讀取和比較測試圖形。目前存在幾種業(yè)界通用的MBIST算法，比如“March”，March-C，MATS+算法。

另一種比較少見的BIST稱為Array?BIST，它是MBIST的一種，專門用于嵌入式存儲(chǔ)器的自我測試。Analog?BIST,則用于模擬電路的自我測試。???BIST技術(shù)正成為高價(jià)ATE的替代方案，但是BIST技術(shù)目前還無法完全取代ATE，他們將在未來很長一段時(shí)間內(nèi)共存。

Scan和BIST是芯片可測性設(shè)計(jì)中兩種非常重要的技術(shù)，也是一個(gè)DFT工程師必備的技能。