? ? ? ?破壞性物理分析（Destructive Physical Analysis）簡稱為DPA，是為了驗(yàn)證元器件的設(shè)計(jì)、結(jié)構(gòu)、材料和制造質(zhì)量是否滿足預(yù)定用途或有關(guān)規(guī)范的要求，按元器件的生產(chǎn)批次進(jìn)行抽樣，對(duì)元器件樣品進(jìn)行非破壞性分析和破壞性分析的一系列檢驗(yàn)和分析的全過程。DPA分析技術(shù)可以提前識(shí)別器件潛在的材料、工藝等方面的缺陷，這些缺陷引發(fā)元器件失效的時(shí)間是不確定的，但所導(dǎo)致的后果是嚴(yán)重的。

DPA的目的

• 糾出假芯片
• 以預(yù)防失效為目的，防止有明顯或潛在缺陷的元器件上機(jī)使用；
• 評(píng)價(jià)和驗(yàn)證供貨方元器件的質(zhì)量；
• 確定元器件在設(shè)計(jì)和制造過程中存在的偏差和工藝缺陷；

DPA分析技術(shù)可以快速發(fā)現(xiàn)潛在的材料、工藝等方面的缺陷，這些缺陷最終導(dǎo)致元器件失效的時(shí)間是不確定的，多數(shù)為早期失效，但所引發(fā)的后果是嚴(yán)重的。